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OMPACT Eco X射线荧光镀层测厚仪
产品编号: BJ210008
上架时间: 2016-05-04
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  • 产品介绍
  • 基本参数
  • 技术支持

   COMPACT Eco是利用X射线荧光进行镀层厚度测量和材料分析。能够快速无损分析以确保您的持续生产和产品质量。可以在无需制样的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体。能够解决微小物品的微米纳米的厚度测量,不再因聚焦影响精度的傻瓜模式,原厂预做曲线,无需大量购买校正片。

  技术规格:

  测定元素范围:Ti(22) – U(92)

  镀层和成份分析:镀层:最多同时测定5层(4层镀层+基体材料)

  成份:最多同时测定20种元素

  X射线激发:50kV、1.2mA (60W)高压发生器,微聚焦W靶X射线管

  探测器:封气正比计数器

  准直器:任选:φ0.3mm或者φ0.5mm准直器

  数字脉冲处理器:2048通道、数字式多道分析器

  数据处理系统:Intel Pentium G2030、2G RAM、500G硬盘(配置相当或者更高),19英寸TFT彩显,Windows 7 32bit操作系统

  相机:彩色视频系统,20倍放大倍数,图像十字线,显示标尺和X射线束尺寸,被测样品图像实时显示功能

  电源要求:110V、230V,60Hz/50Hz

  工作环境要求:10℃ - 40℃ 室温,最高98%相当湿度(无冷凝水),推荐在空调环境中使用

  主机重量:41公斤(不包含计算机和显示器等重量)

  样品台规格:240mm x 240mm样品台,程控Z轴移动距离:60mm,样品台最大承重5公斤

  最大样品尺寸:380mm(W) x 370mm(D) x 100mm(H)

  仪器外形尺寸:400mm(W) x 600mm(D) x 400mm(H)

  COMPACT Eco优势:

  ●超高的性价比

  ●操作简单

  ●高质量高可靠性的全日制24小时/7天操作

  ●快速的服务响应。

  ●无损检测只需几秒钟,为质量保证和过程控制提供单层或多层分析,能进行合金成分的定量分析,可用 于优化电镀液控制的金属离子含量分析。

  技术参数:

  高压发生器: 50kV, 最大电流 1.2mA, 程序控制升压

  X射线管:微聚焦, 优质射线管, W靶, 0.2毫米 x 0.8毫米焦斑

  X射线功率:根据应用优化,最大50VA

  单准直器:直径0.3毫米 或 直径0.5毫米

  样品台:电动升降, Z轴高限 60毫米.

  影象系统:彩色影像系统, 视野范围 8X6 毫米

  图象放大倍数:光学放大20倍.

  辐射安全性能:通过德国联邦物理技术研究院测试,全面安全系统

  腔室:高35厘米, 宽40厘米, 深60厘米.

  样品腔室:可用部分, 高10厘米, 宽38厘米, 深37厘米.

  供电电源:110伏/230伏 60赫兹/50赫兹

  X-MasteR 软件:使用现代计算机技术在WINDOWS下操作软件.

  u-MasteR 软件:用于镀层厚度测量的评价模块.

  Fun-MasteR 软件:使用基本参数法的校正模块.

  Element-MasteR 软件:用于20种以上元素的无标样定性和定量分析.

  %-MasteR 软件:8种以上元素的精确定量材料分析和统计计算.

  Liquid-MasteR 软件:电镀液分析.

  Data-MasteR:利于文件长期归档的数据库和统计处理软件

  Report-MasteR 软件:用于客户建立个性化报告的软件模块.

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